安捷倫電感耦合等離子體光譜儀ICP-OES 5100VDV 

整體體積:800*740*940(W*D*H)，占地面積:0.59 m;Agilent 5100VDV ICP-OES是占地較小小的ICP-OES，極大的節省了用戶空間;所有的連接和控制均在儀器的前面及側面進行，儀器背面無需預留大的維護空間，更進一步節省實驗室空間。儀器整體功率:耗電量:2.9KVA，是所有ICP-OES中耗電量超低的，大程度上節省了用戶的使用成本。

Agilent 5100VDV ICP-OES儀器特點

高效低成本運行

·速度快的 ICP-OES，低的氬氣消耗

·一次讀數完成高精度的同步雙向全譜測量，無等待延時

·VistaChipll 檢測器全密封設計，無需氣體吹掃，無需預熱，即開即用，節省氣體消耗

強大的性能

·垂直炬管設計，適用于各種復雜樣品類型一無論高基質樣品或揮發性有機溶劑均可輕松應對

·patent的冷錐接口(CCI)技術，很大限度減少干擾，提升儀器性能

·高效穩定的 RF 射頻發生器系統，采用固態電源的patent技術設計，確保儀器的高精度運行及優異的長期穩定性

簡潔的分析流程

·直觀的 ICP Expert軟件和patent的 DSC 技術，保證方法開發更為簡潔流暢

·快速直觀的軟件系統操控、模版式方法運行界面、即插即用式炬管設計，極大程度上減少了復雜的培訓過程，確保了操作者對儀器的快速掌控、運行分析

·功能強大的軟件系統，簡化了分析方法開發過程，提高了測量的準確度并擴展了分析范圍

靈活的配置

Agilent 5100 提供三種配置，均采用垂直火炬設計:

·同步垂直雙向觀測(SVDV)一高速的分析測量，低的氣體消耗

·垂直雙向觀測(VDV)一更高的樣品測量通量，更高的分析效率，并可現場升級為 SVDV 高配置模式

·垂直觀測(RV) 一高性能的垂直觀測設計，適用于高產率，復雜基質樣品的實驗室需求

穩定可靠 

5100 ICP-OES 的所有配置均采用垂直炬管和穩定的固態 RF 發生器系統設計，可輕松處理棘手的樣品。上圖顯示了 25% NaCl 溶液中的各元素的回收率。所有元素在 4 小時內均表現出良好的穩定性，在未經內標校準的情況下所得到的 RSD < 1.3%。

速度提升 55%，氬氣用量減少 50%

同步垂直雙向觀測技術的設計原理

5100 SVDV ICP-OES 憑借特別的智能光譜組合技術 (DSC) 一次測量完成水平和垂直信號的

同步采集讀取，實現高速高效的樣品分析，確保復雜基質樣品的分析準確度。

AGILENT 5100 ICP-OES 即使是棘手的復雜樣品也能快速獲得準確的分析結果

大限度減少干擾

CCI消除了水平火炬的低溫等離子體尾焰，大程度地降低了自吸收及電離干擾，從而獲得更寬的動態線性范圍和更低的背景，保證了準確的測量結果。

優異的長期穩定性

固態電源 RF發生器系統設計，支持強大、穩定、免維護的等離子體火炬運行，即使是為棘手的復雜樣品，仍可獲得優異的長期穩定性

應對復雜樣品的分析挑戰

垂直炬管的設計使您可以測量具挑戰性的樣品---從高基質樣品到揮發性有機溶劑。垂直炬管設計方式具有極大的承載優勢，即使是為棘手的復雜樣品，均可獲得無可比的穩定測量結果，減少了清潔需求，降低了停

機時間和所需備用炬管的消耗。

即插即用式炬管設計

簡潔的炬管安裝定位設計，扳手式操控，快速定位，無氣體管路連接需求、精確的位置重現。

低限度的維護，高效的持續運行

自診斷電子系統監控設計，實時監控儀器運行狀態，快速識別組件健康狀況。極大地縮短了儀器的停機維護時間。

全波段一次測量分析、快速準確的分析結果

特別的 DSC 智能光譜組合技術，一次測量完成同步的垂直和水平觀測信號采集讀取，同步的背景校正，從而獲得更為快速、精確的分析結果。

高選擇性、高通量、寬動態范圍

儀器采用 VistaChip CCD固態檢測器，全波段覆蓋，具有高的信號處理速度，極寬的動態范圍，智能防溢出設計。全密封式結構，無需氫氣吹掃，快速啟動分析工作。

設計緊湊，節省實驗室空間

作為世界上小的 ICP-OES,能節省寶貴的臺面空間，同時也能輕松對其進行維修和維護。電源、氣體、冷卻、水和通訊等所有連接均可從儀器側面進行操作，而不必到儀器后部進行，也無需在儀器后部預留大空間。

整機耐腐蝕設計，確保分析可靠性

5100 ICP-OES 整機全部采用耐腐蝕性材料，同時內部電子線路系統正壓設計，可防止酸性蒸氣的侵入。提高了儀器的穩定性，適用于任何苛刻的環境條件。

簡化您的分析流程

Agilent ICP Expert 軟件系統采用人性化的工作表界面設計、軟件程序流暢易懂，方法開發簡單快捷，并可預設模版式軟件程序，極大地節省了時間。

方法開發更為簡潔流暢

5100 ICP-OES 采用了特別patent技術的 DSC 智能光譜組合技術，方法開發中無需針對樣品中的元素選擇分析模式。僅需選擇測量元素及波長，儀器會自動完成測量模式的切換，全譜一次曝光，一次分析完成。

分析方法一鍵式運行

簡便易用、針對分析應用優化的軟件系統，可自動加載預設方法，無需繁瑣的方法開發、調整或培訓，可快速開展分析操作。

豐富準確的軟件計算功能，準確可靠分析結果的保障

? 擬 合背景校正 (FBC) 技術，簡化了方法開發，確保實現快速、準確的背景校正。

? 強 大的譜圖解析功能“快速自動曲線擬合技術”(FACT)，以及經典的“干擾元素校正”(IEC) 技術，可輕松校正光譜干擾，確

保獲得復雜基質樣品中更高的分析準確度。

? 多 重曲線校準功能 (MultiCal) 可監測每一元素多個特征波長結果，增加不同波長之間的數據比對，提升數據結果的準確性，并能擴展測定范圍。

可靠的認證支持

? 選 配數據庫管理 (SCM) 軟件，進一步滿足美國食品藥品jiandu管理 (FDA) 21 CFR part 11 中關于電子記錄的法規要求。

? 儀 器提供 (IQ/OQ) 認證服務，滿足法規要求所需要的初始及后續認證。